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產(chǎn)品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位方案(樣品桿)澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
產(chǎn)品分類
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澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
性能指標(biāo)：
1.透射電子顯微鏡指標(biāo)：
（1）兼容指*型號電鏡及極靴；
（2）單傾可選高傾角版本；
（3）可選雙傾版本，β角傾轉(zhuǎn)±25°（同時受限于極靴）；
（4）測量電極數(shù)可選。
2.電學(xué)測量指標(biāo)：
（1）包含一個電流電壓測試單元；
（2）電壓輸出最大±200 V，最小±100 nV；
（3）電流測量最大±1.5 A，最小100 fA；
（4）恒壓或者恒流模式；
（5）自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。
3.低溫指標(biāo)：
（1）兼容MEMS加熱及電學(xué)芯片；
（2）全溫區(qū)測量，溫度范圍：85 K- 380 K；
（3）控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1 K；
（4）溫度連續(xù)可控。
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