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在科研領(lǐng)域，顯微鏡就像科學(xué)家的“火眼金睛”，幫我們看清微觀世界的奧秘。而電子源，就是這雙眼睛的“光源”，其性能直接決定了觀測的精度和效率。最近，由北京大學(xué)等團隊聯(lián)合研發(fā)的“光纖集成石墨烯超快電子源”登上了《NatureCommunications》，用創(chuàng)新設(shè)計打破了傳統(tǒng)電子源的諸多限制，而澤攸科技的ZEM系列臺式掃描電鏡，更是為這項研究提供了關(guān)鍵助力傳統(tǒng)電子源的“老大難”：效率低還“嬌氣”提到電子源，你可能會覺得陌生，但它卻是真空電子技術(shù)的核心。無論是高精度的時間分辨成像，還...

在納米材料研發(fā)、先進儲能器件優(yōu)化及半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域，材料在服役環(huán)境中的動態(tài)行為研究至關(guān)重要。北京儀光憑借澤攸SEM/TEM原位分析系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)靜態(tài)表征的局限，為科學(xué)家提供了實時觀測材料微觀結(jié)構(gòu)演變的“納米級顯微鏡”，成為推動材料科學(xué)突破的關(guān)鍵工具。1.原位SEM：動態(tài)形變與失效機制的“現(xiàn)場直播”ZEM系列臺式掃描電鏡搭載的原位拉伸/壓縮模塊，可在真空或可控氣氛環(huán)境中對金屬、陶瓷、高分子材料進行納米級精度的力學(xué)加載。例如，在鋰離子電池隔膜研究中，通過原位SEM可實時觀察隔膜...

在現(xiàn)代電子設(shè)備中，有一群“隱形功臣”——微型BUMPS。它們是集成電路里的核心連接器，負責實現(xiàn)堆疊管芯或中介層之間的電氣和機械連接，手機、平板、電腦等設(shè)備能高效運轉(zhuǎn)，可離不開它們的功勞。01高精度測量，全面分析使用50倍干涉鏡頭，Sneox能對微型BUMPS進行三維輪廓測量，在高分辨率下全面分析，驗證其高度、直徑和平整度，有效防止粘合失敗并優(yōu)化電氣性能。更厲害的是，僅需3秒就能分析所有測量數(shù)據(jù)，大大提高了效率。02性能，優(yōu)勢盡顯速度驚人：采用新的智能算法以及新型相機，數(shù)據(jù)采集...

在傳統(tǒng)測量領(lǐng)域，復(fù)雜工件的檢測往往面臨效率低、操作繁瑣、動態(tài)呈現(xiàn)不足等痛點。而SensoFIVE的出現(xiàn)，正以其特別的五軸動態(tài)實時呈現(xiàn)技術(shù)，為這一領(lǐng)域帶來不一樣性的變革。傳統(tǒng)測量常受困于操作復(fù)雜、動態(tài)呈現(xiàn)不足，而SensoFIVE的出現(xiàn)打破了這一局面。，時長02:54它與Sneox五軸系統(tǒng)無縫協(xié)作，三維查看器能實時展現(xiàn)五軸運動細節(jié)，旋轉(zhuǎn)角度、高度調(diào)整皆直觀可見，讓測量從抽象變具象。放置樣本到平面托盤，3D查看器可快速還原其形狀；借助旋轉(zhuǎn)支架測量圓柱體時，實時反饋讓操作更便捷，大...

一、Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡核心應(yīng)用場景半導(dǎo)體制造與微電子檢測晶圓表面形貌測量：精確檢測晶圓表面粗糙度(Ra關(guān)鍵尺寸(CD)表征：利用共聚焦模式捕捉光刻膠結(jié)構(gòu)的側(cè)壁粗糙度(Sa封裝缺陷檢測：檢測芯片與基板貼合平整度，發(fā)現(xiàn)空洞、翹曲等問題，保障電子封裝電氣性能。例如，在動力電池模組封裝中，通過30片/分鐘的高速檢測識別0.2μm涂層不均缺陷，年節(jié)省探針刮傷導(dǎo)致的報廢成本超280萬元。精密零部件與模具制造表面粗糙度評估：測量發(fā)動機葉片、精密齒輪等高精度零部件的表面形貌...

一、Slynx2：多技術(shù)融合的三維測量方案該系統(tǒng)在同一傳感器頭內(nèi)集成干涉、共聚焦和AI多焦面疊加技術(shù)，搭配6個不同鏡頭的電動鼻輪與125×75毫米電動XY平臺，可實現(xiàn)多尺度測量。點擊觀看網(wǎng)絡(luò)研討會視頻↓，時長38:28以髖關(guān)節(jié)植入物髖臼杯外部測量為例，采用共聚焦技術(shù)與50倍長焦鏡頭，通過Z向掃描獲取三維圖像，再借助SensoVIEW軟件分析數(shù)據(jù)，精準評估表面狀況，為骨細胞整合優(yōu)化提供依據(jù)二、QvixPivot：支架缺陷檢測的專業(yè)之選作為針對支架與心臟瓣膜框架的檢測方案，其運用...

在半導(dǎo)體芯片尺寸逼近物理極限、納米材料應(yīng)用突破傳統(tǒng)邊界的今天，如何實現(xiàn)微米級甚至納米級器件的精準測試與操控，成為制約科技創(chuàng)新的關(guān)鍵瓶頸。澤攸憑借自主研發(fā)的探針臺系列產(chǎn)品，以“三維定位精度達納米級、環(huán)境適應(yīng)性跨越-196℃至400℃”的核心技術(shù)，為微納電子、光電材料、量子計算等領(lǐng)域提供了從基礎(chǔ)研究到產(chǎn)業(yè)化的全鏈條解決方案。一、半導(dǎo)體行業(yè)的“質(zhì)量守門人”在晶圓制造環(huán)節(jié)，澤攸手動探針臺系統(tǒng)通過特制熱沉設(shè)計將溫度波動控制在±0.1℃以內(nèi)，配合高精度微調(diào)樣品座，可實現(xiàn)0....

Ssw的定義與物理意義Ssw指的是與傅立葉變換最大值相對應(yīng)的波長。從表面紋理的構(gòu)成機制來看，任何物體表面都可視為不同尺度波的疊加組合，而傅立葉變換能夠定量分析各個波長成分對整體紋理的貢獻程度。在此過程中，Ssw參數(shù)所表征的正是對表面紋理形成貢獻最大的波長分量。需要特別指出的是，Ssw的應(yīng)用存在一定的適用范圍。當面對缺乏明顯周期性圖案的表面時，該參數(shù)的表征意義會相應(yīng)減弱。這是因為在這種情況下，不存在占主導(dǎo)地位的波長成分，傅立葉變換的最大值所對應(yīng)的波長無法準確反映表面的典型特征。...