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日本OLYMPUS金相顯微鏡BX53M明場(chǎng)觀察
日本OLYMPUS金相顯微鏡BX53M明場(chǎng)觀察金相顯微系統(tǒng)通過反射明暗場(chǎng)雙模式照明、半復(fù)消色差物鏡組及高分辨率數(shù)字成像的協(xié)同設(shè)計(jì),滿足了對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)高精度、高通量分析的需求。尤其在圖像融合(EDF)與大視野拼接技術(shù)上表現(xiàn)出色,為科研與工業(yè)質(zhì)檢提供了可靠的技術(shù)平臺(tái)。未來可進(jìn)一步探索偏振、熒光模塊的集成潛力。
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日本OLYMPUS金相顯微鏡BX53M明場(chǎng)觀察
金相顯微分析系統(tǒng)技術(shù)配置研究:反射明暗場(chǎng)成像與半復(fù)消色差物鏡應(yīng)用
摘要
本文針對(duì)一套高性能金相顯微鏡系統(tǒng)的技術(shù)配置進(jìn)行解析,重點(diǎn)關(guān)注其光學(xué)結(jié)構(gòu)、成像模塊、物鏡性能及軟件功能。系統(tǒng)以反射明暗場(chǎng)(Brightfield/Darkfield, BF/DF)照明為核心,配備半復(fù)消色差(Semi-Apochromat)物鏡系列,并集成高分辨率數(shù)字成像與測(cè)量功能,適用于金屬材料、半導(dǎo)體、陶瓷等領(lǐng)域的精密顯微分析。
主鏡體結(jié)構(gòu)
反射光鏡體型號(hào):BX53MRF-S
光路設(shè)計(jì):專用反射光路框架,支持明場(chǎng)(BF)與暗場(chǎng)(DF)照明模式切換,優(yōu)化同軸光路穩(wěn)定性。
觀察模塊
超寬視野目鏡 WHN10X-H:視場(chǎng)直徑22mm,10倍放大。
標(biāo)準(zhǔn)視野目鏡 WHN10X:視場(chǎng)直徑20mm,10倍放大。
光路分光比:100%目鏡或100%攝像端口,支持實(shí)時(shí)觀察與成像同步切換。
三目觀察筒:U-TR30-2
目鏡配置:
照明系統(tǒng)
功能:集成BF/DF光路切換機(jī)構(gòu),支持明暗場(chǎng)無縫轉(zhuǎn)換。
光強(qiáng)控制:0–100%無級(jí)調(diào)節(jié),帶預(yù)設(shè)功能。
光源類型:高亮度白光LED,色溫約5500K
優(yōu)勢(shì):長(zhǎng)壽命(>60,000小時(shí))、低發(fā)熱、無需預(yù)熱。
光源:BX3M-LEDR 反射式LED照明裝置
光路控制器:BX3M-RLA-S 反射光路照明器
系統(tǒng)配備平場(chǎng)半復(fù)消色差物鏡(M PLAN Semi-Apochromat BD),專為明暗場(chǎng)設(shè)計(jì),顯著提升色差校正水平與成像平坦度:
物鏡型號(hào) | 放大倍率 | 數(shù)值孔徑 (NA) | 工作距離 (WD) | 校正等級(jí) |
---|---|---|---|---|
MPLFLN5XBD | 5X | 0.15 | 12.0 mm | 平場(chǎng)半復(fù)消色差 (BD) |
MPLFLN10XBD | 10X | 0.30 | 6.5 mm | 平場(chǎng)半復(fù)消色差 (BD) |
MPLFLN20XBD | 20X | 0.45 | 3.0 mm | 平場(chǎng)半復(fù)消色差 (BD) |
MPLFLN50XBD | 50X | 0.80 | 1.0 mm | 平場(chǎng)半復(fù)消色差 (BD) |
技術(shù)特點(diǎn):
色差校正:半復(fù)消色差設(shè)計(jì)顯著降低二級(jí)光譜(軸向色差),優(yōu)于常規(guī)消色差物鏡,尤其在高倍率(50X)下可減少色偏。
像場(chǎng)平坦度:平場(chǎng)校正確保邊緣視場(chǎng)分辨率損失<5%,全視野均勻成像。
暗場(chǎng)兼容性:BD標(biāo)識(shí)表示物鏡具備暗場(chǎng)環(huán)形照明通道,支持不透明樣本表面微小缺陷的散射光成像。
機(jī)械接口:匹配高性能物鏡轉(zhuǎn)盤 U-D5BDRE(5孔位),預(yù)留DIC(微分干涉)擴(kuò)展接口。
載物臺(tái):U-SVRM 機(jī)械平臺(tái)
移動(dòng)范圍:76×52mm(X-Y方向)
精度:0.1mm微調(diào)旋鈕,帶游標(biāo)刻度(最小讀數(shù)0.01mm)
驅(qū)動(dòng)方式:右手控制,雙向同軸傳動(dòng)。
臺(tái)板:U-MSSP 專用金屬載物板,兼容標(biāo)準(zhǔn)樣本夾具。
相機(jī)模塊
工業(yè)級(jí)散熱設(shè)計(jì),支持長(zhǎng)時(shí)曝光(>30秒)降溫噪。
像素尺寸:3.45μm × 3.45μm,高動(dòng)態(tài)范圍(≥70dB)。
傳感器:20MP CMOS(2000萬像素)彩色傳感器
接口:USB 3.0,傳輸速率≥480Mbps
技術(shù)特性:
光學(xué)適配接口:U-TV1XC C型接口
倍率:1X(無附加放大)
兼容性:標(biāo)準(zhǔn)C-Mount螺紋,支持?jǐn)U展外接光學(xué)組件。
影像測(cè)量軟件
EDF融合速度:<2秒/層(1024×768分辨率)
拼接精度:重疊區(qū)誤差≤1%。
圖像采集與實(shí)時(shí)疊加(Live stacking)
幾何測(cè)量:長(zhǎng)度、周長(zhǎng)、面積(支持多點(diǎn)擬合)
景深合成(Extended Depth of Focus, EDF):Z軸序列圖像融合
圖像拼接(Stitching):大視野全景重建(>10×10網(wǎng)格)
基礎(chǔ)處理:亮度/對(duì)比度調(diào)整、偽彩色映射、標(biāo)尺插入。
核心功能:
算法性能:
數(shù)據(jù)處理平臺(tái)
CPU:四核處理器(≥3.0 GHz)
內(nèi)存:≥16GB DDR4
存儲(chǔ):1TB SSD + 機(jī)械備份盤
顯示:24英寸LCD,分辨率≥1920×1080
配置要求(參考值):
金屬材料分析
明場(chǎng)模式:觀察晶界、相分布(NA≥0.45可分辨<0.5μm結(jié)構(gòu))
暗場(chǎng)模式:檢測(cè)表面劃痕、微孔洞(散射光增強(qiáng)對(duì)比度)。
陶瓷/復(fù)合材料
高倍物鏡(50X/NA=0.8)結(jié)合EDF技術(shù):解決表面起伏導(dǎo)致的局部失焦問題。
半導(dǎo)體封裝檢測(cè)
圖像拼接功能:實(shí)現(xiàn)10mm×10mm焊點(diǎn)區(qū)域的無縫成像(20X物鏡下)。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)總結(jié):
光學(xué)性能:半復(fù)消色差物鏡群實(shí)現(xiàn)高保真色彩還原與低畸變成像。
功能擴(kuò)展性:預(yù)留DIC接口支持未來相位差成像升級(jí)。
自動(dòng)化分析:軟件平臺(tái)提供一站式測(cè)量與圖像增強(qiáng)流程。
結(jié)論
該金相顯微系統(tǒng)通過反射明暗場(chǎng)雙模式照明、半復(fù)消色差物鏡組及高分辨率數(shù)字成像的協(xié)同設(shè)計(jì),滿足了對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)高精度、高通量分析的需求。尤其在圖像融合(EDF)與大視野拼接技術(shù)上表現(xiàn)出色,為科研與工業(yè)質(zhì)檢提供了可靠的技術(shù)平臺(tái)。未來可進(jìn)一步探索偏振、熒光模塊的集成潛力。
日本OLYMPUS金相顯微鏡BX53M明場(chǎng)觀察
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