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三維光學輪廓儀
Sensofar
S neox西班牙Sensofar 雙針孔共軛設計
西班牙Sensofar 雙針孔共軛設計,的四合一測量技術(shù)堪稱 S neox 的一大核心亮點。在其傳感器頭中,巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術(shù)。只需輕松點擊一次,系統(tǒng)便能依據(jù)當前測量任務的具體需求,自動智能地切換到最為適配的優(yōu)良技術(shù)。
產(chǎn)品分類
一、共聚焦顯微技術(shù)原理與優(yōu)勢
Sensofar S neox采用的共聚焦顯微技術(shù)是基于光學共軛原理的先進測量方法,其核心技術(shù)特點包括:
1. 光學系統(tǒng)架構(gòu)
雙針孔共軛設計:采用照明針孔和探測針孔的光學共軛結(jié)構(gòu),有效抑制離焦光信號
高NA物鏡系統(tǒng):配備數(shù)值孔徑0.95的超級復消色差物鏡,橫向分辨率達0.2μm
多波長激光光源:集成405nm、532nm、650nm三波長模塊,適應不同材料特性
2. 技術(shù)優(yōu)勢對比
參數(shù)
二、S neox共聚焦模式的創(chuàng)新設計
1. 智能針孔陣列技術(shù)
動態(tài)可調(diào)針孔:針孔直徑50-200μm電動可調(diào),適應不同放大倍率
多針孔并行掃描:采用7×7陣列式針孔設計,測量速度提升5倍
自適應優(yōu)化算法:實時分析信號強度,自動調(diào)整針孔參數(shù)
2. 三維掃描系統(tǒng)
高精度Z軸平臺:
行程范圍:0-10mm(可選20mm)
定位精度:10nm
最大速度:50μm/s
傾斜補償機構(gòu):±5°自動傾斜校正,確保垂直測量
3. 信號處理創(chuàng)新
光子計數(shù)檢測:單光子靈敏度,信噪比>80dB
實時去噪算法:基于小波變換的噪聲抑制技術(shù)
多幀融合技術(shù):通過32幀平均提升信號質(zhì)量
三、關鍵性能參數(shù)
1. 分辨率指標
橫向分辨率:
物鏡依賴:0.2μm(100X)至2.5μm(10X)
實際可達:0.5μm(標準工作距離)
縱向分辨率:
理論極限:1nm
實際測量:2nm(金屬表面)
2. 測量范圍
參數(shù)
規(guī)格
XY掃描范圍
200×200mm(可選300mm)
Z測量范圍
0.1μm-10mm
最大樣品高度
80mm
最大傾斜角
70°
3. 重復性測試數(shù)據(jù)
粗糙度標準片測量:
Ra重復性:±0.05nm(1σ)
Sz重復性:±0.3nm(1σ)
臺階高度測量:
1μm臺階:±0.8nm(k=2)
100μm臺階:±15nm(k=2)
四、典型應用案例
1. 半導體封裝檢測
客戶需求:
測量銅柱凸點高度(20-50μm)
檢測焊料爬升角度
識別微米級空洞缺陷
解決方案:
使用50X物鏡+100μm針孔配置
掃描速度:3mm2/s
獲得參數(shù):
凸點高度一致性±0.5μm
側(cè)壁角度測量精度±0.2°
缺陷檢測靈敏度:2μm
2. 金屬增材制造
測量挑戰(zhàn):
高反射率表面
復雜自由曲面
需要大范圍測量
方案實施:
采用10X物鏡+200μm針孔
多區(qū)域自動拼接測量
關鍵結(jié)果:
表面粗糙度Sa:8.2±0.3μm
熔池深度分布圖
孔隙率統(tǒng)計:0.12%
3. 醫(yī)療植入物檢測
特殊要求:
鈦合金表面微孔測量
納米級紋理分析
生物相容性評估
檢測流程:
使用20X物鏡+偏振模塊
三維形貌重建:
微孔直徑分布:50-120μm
表面紋理取向度分析
自動生成ISO 10993合規(guī)報告
五、操作指南與技巧
1. 參數(shù)優(yōu)化建議
高反射表面:
使用405nm波長
針孔調(diào)至最小
啟用偏振濾光
深槽結(jié)構(gòu):
選擇低倍物鏡(5X-20X)
增大針孔直徑
降低掃描速度
2. 常見問題解決
問題現(xiàn)象
可能原因
解決方案
信號弱
針孔過大
減小針孔至50μm
邊緣失真
樣品傾斜
啟用傾斜補償
數(shù)據(jù)噪聲
振動干擾
啟用動態(tài)穩(wěn)定模式
3. 維護要點
每周:光學窗口清潔
每月:針孔校準
每季度:Z軸精度驗證
六、技術(shù)發(fā)展趨勢
1. 下一代改進方向
超快共聚焦系統(tǒng):開發(fā)MHz級掃描技術(shù)
AI實時優(yōu)化:基于深度學習的參數(shù)自動調(diào)節(jié)
多模態(tài)集成:與拉曼光譜聯(lián)用
2. 行業(yè)應用拓展
柔性電子:可拉伸導體形變測量
新能源:電池極片孔隙分析
超精密加工:原子級表面表征
七、總結(jié)
Sensofar S neox的共聚焦模式通過創(chuàng)新的光學設計和智能算法,實現(xiàn)了對各類復雜表面的高精度測量。其在半導體、增材制造、醫(yī)療設備等領域的成功應用,證明了該技術(shù)在現(xiàn)代工業(yè)質(zhì)量控制中的核心價值。隨著技術(shù)的持續(xù)升級,共聚焦測量將繼續(xù)推動精密制造向更高水平發(fā)展。
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