在材料科學(xué)、機(jī)械工程及光學(xué)加工等領(lǐng)域，表面形貌的測(cè)量至關(guān)重要。它不僅關(guān)乎產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，更是研發(fā)創(chuàng)新中至關(guān)重要的一環(huán)。而三維共聚焦白光干涉輪廓儀，憑借其高精度、非接觸式的測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)，已成為表面形貌測(cè)量的首要選擇工具。

　　三維共聚焦白光干涉輪廓儀，也被稱為白光干涉儀，其測(cè)量原理基于白光干涉技術(shù)。通過發(fā)射一束寬光譜的白光，并將其照射到被測(cè)物體表面，然后收集被物體反射的光線，形成一系列干涉條紋。這些干涉條紋的形態(tài)和分布與物體表面的高度和形狀密切相關(guān)。通過分析這些干涉條紋，儀器能夠精確計(jì)算出物體表面的三維尺寸信息，實(shí)現(xiàn)表面形貌的高精度測(cè)量。

　　在實(shí)際應(yīng)用中，產(chǎn)品展現(xiàn)出了其特殊的優(yōu)勢(shì)。

　　1.其測(cè)量精度較高，能夠達(dá)到亞納米級(jí)別，滿足納米或亞納米級(jí)別超高精度加工領(lǐng)域的檢測(cè)需求。

　　2.作為一種非接觸式測(cè)量技術(shù)，它不會(huì)對(duì)樣品表面造成任何損傷，尤其適用于易損或敏感材料的測(cè)量。

　　3.儀器測(cè)量速度快，能夠快速獲取表面形貌數(shù)據(jù)，為快速檢測(cè)和質(zhì)量控制提供了有力支持。

　　除了高精度和快速測(cè)量外，它還具有廣泛的測(cè)量范圍。它能夠測(cè)量從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，適用于不同材料和不同表面特性的測(cè)量。同時(shí)，儀器配備有專門的軟件，能夠以三維立體、二維平面以及斷面分布曲線方式顯示實(shí)時(shí)測(cè)量結(jié)果，并對(duì)測(cè)量結(jié)果作進(jìn)一步的修正處理，為材料表面質(zhì)量提供全面的評(píng)估。

　　產(chǎn)品圖片展示

　　綜上所述，三維共聚焦白光干涉輪廓儀憑借其高精度、非接觸式測(cè)量、快速測(cè)量及廣泛的測(cè)量范圍等優(yōu)勢(shì)，已成為表面形貌測(cè)量的重要工具。在材料科學(xué)、機(jī)械工程及光學(xué)加工等領(lǐng)域，它發(fā)揮著不可替代的作用，為產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制提供了有力保障。